今日，日联科技受邀参与受行业瞩目的“第90届CEIA电子智造高峰论坛 ”西安站。

会上，日联科技与数百位业内专家、学者齐聚一堂，共同探讨高可靠性智能检测解决方案，为我国电子产业实现高质量发展献策。

会议现场客户云集，日联科技专家针对工业检测影像软件、AI 人工智能算法、3D/CT 断层扫描技术等在X射线检测领域的应用做深度剖析。

日联科技始终专注 X 射线自主创新研究，并不断积累相关技术与产品的行业解决方案经验，实现了闭管微焦点射线源、集成电路检测设备、新能源电池检测设备、3D/CT 检测设备和一体化压铸成型车架检测设备等高端应用产品的不断突破，推动国内 X 射线检测领域核心部件、核心设备的国产替代进程。